一、标准校准周期：按使用场景划分

 

1.实验室常规使用场景（很普遍）

 

每日校准：每次使用前需进行零点校准（去皮校准），确保天平空载时显示为0，消除微小零点漂移。

 

每周校准：进行砝码校准（使用标准砝码校准1-2个常用量程），适用于每日使用1-3次、环境稳定的实验室（温度20-25℃，湿度45-65%）。

 

每月校准：进行全量程校准，覆盖天平常用称量范围，确保各量程称量精度达标。

 

年度校准：由第三方计量机构进行法定计量校准，出具校准证书，满足实验室资质认定（CMA）、CNAS认可等合规要求。

 

2.高频/高强度使用场景

 

每日使用≥5次、连续批量称量的场景（如制药厂原料称量、食品检测实验室）：

 

零点校准：每次使用前必做。

 

砝码校准：每2-3天1次。

 

全量程校准：每15天1次。

 

年度法定校准：每年1次，必要时增加半年度校准。

 

3.严苛环境/高要求场景

 

环境波动大（温度波动≥3℃/天、湿度＞70%）、粉尘较多的实验室，或称量精度要求很高（如十万分之一天平，精度0.01mg）的场景：

 

零点校准：每次使用前必做，且每2-3小时复测1次。

 

砝码校准：每日1次。

 

全量程校准：每周1次。

 

年度法定校准：每年1次，可根据计量机构建议增加校准频次。

 

4.低频率使用场景

 

每月使用≤5次的备用天平、教学实验用天平：

 

零点校准：每次使用前必做。

 

砝码校准：每次使用前或每月1次。

 

全量程校准：每3-6个月1次。

 

年度法定校准：每年1次。

 

二、必须立即校准的特殊情况

 

除定期校准外，出现以下情况时，需立即对分析天平进行校准，避免称量误差：

 

天平移动位置后（如从一个实验室搬到另一个实验室），重力场变化会影响称量精度，必须重新校准。

 

更换天平配件后（如称量盘、传感器、砝码），配件精度会影响整体称量结果，需校准验证。

 

出现称量异常时（如称量结果重复性差、固定偏差、显示不稳定），说明天平精度可能偏移，需校准排查问题。

 

经历异常环境后（如断电、高温、潮湿、碰撞），元器件可能受损或参数漂移，需校准确认精度。

 

进行重要实验/检测前（如产品出厂检验、科研数据采集），为确保数据准确性，需提前校准。

 

三、校准方式：区分日常校准与法定校准

 

分析天平的校准分为日常自行校准和法定计量校准，两者功能不同，不可替代：

 

日常自行校准：由实验室操作人员完成，使用实验室自备的标准砝码，进行零点校准、砝码校准、全量程校准，目的是确保日常称量精度，满足实验需求，校准记录需留存归档。

 

法定计量校准：由具备资质的第三方计量机构完成，依据国家计量检定规程（JJG1036-2008《电子天平》）进行校准，出具带CMA/CNAS标识的校准证书，用于实验室资质认定、产品质量认证等合规要求，校准结果具有法律效力。

 

四、校准注意事项

 

校准前需将天平放置在稳定的水平台上，远离振动、气流、磁场干扰，预热30分钟以上，确保天平处于稳定工作状态。

 

校准用标准砝码需在有效期内，且与天平精度匹配（如十万分之一天平需使用E1级标准砝码），避免砝码误差影响校准结果。

 

校准过程中，操作人员需佩戴无尘手套，避免指纹、灰尘污染砝码和称量盘，影响称量精度。

 

校准完成后，需及时记录校准时间、校准人员、校准结果、砝码信息等，形成完整的校准记录，便于追溯。